2018-08-17
金秋九月，第20届中国国际光电博览会（CIOE 2018）将在深圳会展中心盛大举行，588888纽约国际线路检测中心仪器携SuperView W1光学3D表面轮廓仪、ZT202-3D曲面玻璃快速检测仪、SJ6000激光干涉仪、SJ57系列轮廓测量仪等精密测量仪器亮相，向行业客户展示一系列先进的测量解决方案。
第20届中国国际光电博览会
展会时间：2018年9月5-8日
展会地点：深圳会展中心
展位号：9号馆9E16
SuperView W1光学3D表面轮廓仪专用于半导体、显示屏、光学加工、精密机械零部件、微纳材料等行业中精密元器件的表面粗糙度、几何轮廓等参数的测量，精度达到纳米级。
ZT202-3D曲面玻璃快速检测仪专用于测量全透明、半透明、非透明材质，曲面屏、平面屏的厚度及外形轮廓尺寸，并实时将测量结果以图表的形式反馈给用户，用户对生产加工的精度了如指掌，可大幅优化工艺流程和提高良品率。
SJ6000激光干涉仪可对各类通用机床和专用机床（如玻璃雕刻机、激光切割机和晶圆划片机等）的线性、角度、直线度、垂直度、平行度等几何精度快速高效测量。
我公司测量仪器在光电行业应用非常广泛，以上仅对部分展品做了简单介绍，如需详细了解，敬请莅临我司展位，与我们深入交流探讨，我们在深圳会展中心9号馆9E16与您不见不散！
